X光繞射分析(X-ray diffraction analysis, XRD) 是透過X光與晶體的繞射產生圖譜,並從圖譜資料庫比對,即可推論出材料晶體的排列結構、晶體排列的方式和奈米晶粒大小,以及單晶、多晶薄膜材料的結晶性分析等,為評估材料特性的一種非破壞式分析儀器。
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案例分享
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- 薄膜殘餘應力分析
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Bruker New D8 Discover
X光源 | 6kW turbo X-ray spot size: 0.3*3mm |
偵測器 | LynxEye PathFinder |
其他功能 | 2 bounce monochromator Ge (002) Laser alignment |
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