剖面研磨
背面研磨
快速的樣品製備方式之一,利用砂紙或鑽石砂紙,搭配研磨頭作局部研磨(Polishing),加上後續的拋光,可處理出清晰的樣品表面。
iST 宜特服務優勢
案例分享
晶粒(Die)剖面研磨
銅製程剖面研磨
銅製程剖面研磨
一般IC 晶背研磨
COB封裝形式晶背研磨
晶背研磨後, OBIRCH分析影像
- IC之產品,如覆晶封裝( Flip Chip)、鋁/銅製程結構、C-MOS Image Sensor
- PCB/PCBA等各種板材或成品
- LED成品
iST不僅可以提供一般剖面研磨(Cross-section),也提供樣品從背面進行研磨(晶背研磨,Backside Polishing),將基材磨至特定的厚度後再進行拋光。剖面、斷面研磨與晶背研磨(Backside Polishing),都是為了可以銜接後續的分析檢測。
領先市場的多層晶片堆疊取汲技術:3D IC製程 取樣
成功率高
交期快速
晶粒(Die)剖面研磨
銅製程剖面研磨
銅製程剖面研磨
一般IC 晶背研磨
COB封裝形式晶背研磨
晶背研磨後, OBIRCH分析影像