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by admin
三分鐘搞懂Preconditioning預處理跟MSL濕敏試驗測試差在哪
2023-03-21

IC封裝體在進行相關環境類RA之前,必須先進行「預處理測試(Preconditioning Test)」。然而,由於此實驗流程/步驟與「濕度敏感等級試驗(MSL Test)」類似,宜特時常遇到客戶混淆此兩種實驗…

小量工程樣品 如何快速取得晶片封裝資源
2023-03-07

在研發階段取得試產品晶圓/晶片後,大多必須透過封裝製程,才能進行後續的工程驗證。越來越多客戶,特別是學術研究單位,找上宜特進行工程驗證時,會先尋求宜特協助進行工程樣品快速晶片封裝…

CIS晶片遇到異常 求助無門 怎麼辦
2023-02-07

CIS產品能夠從早期數十萬像素,一路朝億級像素邁進,端有賴於摩爾定律在半導體微縮製程地演進,使得訊號處理能力顯著提升。然而同時,卻也使得這類CIS產品在研發或量產階段若遇到異常,故障分析困難度提升..

第四類半導體來了 如何鑑定Ga2O3氧化鎵
2023-01-10

氧化鎵Ga2O3被稱為第四類半導體的原因是,其超寬能隙的特性,相較於相較於第三類半導體碳化矽SiC與氮化鎵GaN,將使材料能承受更高電壓的崩潰電壓與臨界電場。本文將呈現如何應用TEM分析技術鑑定氧化鎵…

為何已採用三防膠塗佈的電子產品仍然發生硫化腐蝕失效?
2022-12-13

為何工業、車用、戶外級別的電子產品需要採用 三防膠 塗佈?又為何已採用三防膠塗佈的電子產品仍然發生硫化腐蝕失效?如何透過宜特的硫化腐蝕驗證平台協助客戶選擇正確的膠材?所謂三防膠又稱三防漆,亦可稱為敷形塗層….

名針探精準定位 讓奈米電性量測找出缺陷
2022-11-22

先進製程中的故障分析,對於研發與產能來說更是至關重大,但元件尺寸越做越小,如何在僅有數奈米的微小尺度下,進行電晶體的特性量測以及缺陷處定位則成為了一大難題。當奈米級先進製程的元件發生故障,要找出微小尺度下的缺陷,該透過何種 奈米電性量測精準定位?