快速鎖定製程異常根因：iST宜特微汙染與未知物精準解析服務
在AI相關精密製造與半導體製程中，任何細微的異物或汙染都是良率流失的隱形殺手。iST宜特具備的微汙染（未知物）檢測實力，能針對各種未知材質進行深度定性與定量分析。我們不只提供測試報告，更協助您解讀數據，在製程出現警訊時，以最快速度找出汙染源頭與失效根因 (Root Cause)，確保生產線穩定運作。
為什麼選擇iST宜特解析未知物？
iST宜特核心服務項目與應用技術
我們整合多項精密儀器，為您提供最完整的微汙染分析矩陣：
| 分析領域 | 核心檢測技術 | 應用價值 |
|---|---|---|
| 未知物定性 | FTIR (傅立葉轉換紅外線光譜) | 鑑定塑膠、纖維、油品等有機異物成分與化學結構。 |
| 超微量元素 | ICP-MS / XRF | 偵測ppb等級的金屬汙染與離子殘留 |
| 材料特性分析 | DSC / TMA / DMA / TGA | 解析材料熱穩定性、熱膨脹係數 (CTE)、玻璃化轉變溫度(Tg)與機械行為 |
| 液體成分鑑定 | HPLC (高效液相層析) | 透過特徵分佈(Fingerprint)差異分析，確保藥水、溶劑供應鏈的一致性與純度 |
| 揮發性分析 | GC-MS (氣相層析質譜儀) | 追蹤氣體分子汙染（AMC）與材料揮發氣體釋放（Outgassing） |
無論是製程中偶發的異常黑點、材料表面微汙染，或是供應鏈變更後的成分驗證，iST宜特都能提供最即時的支援，助您守護良率防線。