服務優勢
- 全系列Burn-in System,符合各功率消耗 Power Consumption、Pin Count、獨立溫控
- 全系列公板/專用板/客製板,另外在電路設計/PCB布局(Layout)/PCB 組裝/ 客製化Socket
參考規範
- JESD 47
- JESD 74
- JESD22-A101
- JESD22-A110
- JESD22-A108
- 車用、消費性、商用、工業用
對於不同產品屬性也有相對應的測試方法及條件,如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRB(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test)等試驗手法。
上述各項實驗條件,均需要施加電源或信號源,使得元件進入工作狀態或穩態,經由電壓、溫度、時間等加速因子(Acceleration Factor)交互作用下,達到材料老化的效果,並從試驗結果計算出預估產品的故障率、MTTF(Mean Time To Failure)及FIT(Failure In Time)。