【先探投資週刊】AI、先進封裝、晶圓薄化、車電與MA擴產 宜特五箭齊發 優化獲利 2024-08-22 台灣在國際半導體市場中,正以AI、先進封裝與先進製程發光發熱,雖然當中的主角是晶圓代工大廠,但檢測實驗室也正跟著快速茁壯,尤其對宜特(3289)來說,布局AI/HPC、先進封裝、晶圓薄化、車電與MA(材料分析)擴產效益,自下半年起將五箭齊發,而後續也還有低軌衛星、CPO等貢獻… Read More 先探投資週刊 【新通訊元件雜誌】太空產業重新定義 台廠上太空機會來了 2024-08-21 全球太空經濟在2040年預計突破1兆美元,電子廠商紛紛投入太空市場。但面對火箭與太空環境嚴苛的考驗,如何在地面模擬測試,使您的產品可在軌道順利運行?我國從2019年到2029年,於第3期「國家太空科技發展長程計畫」投入超過新台幣400億元… Read More 新通訊元件雜誌 【新電子雜誌】判讀偽訊號/分析能峰重疊 EDS能譜判讀精準材料解析 2024-08-20 隨著半導體製程已逼近物理極限,各國大廠不斷從材料著手想要突破研發瓶頸,材料分析對於改善半導體缺陷、提升製程良率是非常重要的關鍵。現今的工程師想要解析微奈米材料時,經常會使用電子顯微鏡加裝X光能量散佈能譜儀… Read More 新電子雜誌 【新電子雜誌】車用板階可靠度測試始出來 AEC-Q007直面溫度循環挑戰 2024-07-25 車用IC上板至PCB的焊點可靠度測試(BLR)以往僅在AEC-Q104標準中稍作提及。終於在今年三月,眾人引頸期盼之下,針對車用板階可靠度的AEC-Q007標準問世。現在就讓我們快速了解一下AEC-Q007到底包含了哪些內容吧… Read More 新電子雜誌 【新電子雜誌】揪出晶片漏電流真因 TEM破解電路差排軌跡 2024-06-25 在晶片製造過程中,差排是一個相當棘手的問題,這個微小缺陷可能會引發半導體元件的漏電流,進而嚴重影響元件的可靠性。TEM是目前唯一能觀察到微小差排的分析工具,你會使用TEM這個超級工具分析差排軌跡嗎?… Read More 新電子雜誌 【新電子雜誌】高效準確/測試覆蓋率廣 飛偵測試大幅提升PCBA品質 2024-05-10 在AI和HPC(高效能運算)等應用蓬勃發展下,IC製造商不斷致力於研發效能強大、體積小巧的3D堆疊異質整合晶片,當發現產品有問題時,究竟是元件本身老化?還是元件上板至PCB才發生的異常?… Read More 新電子雜誌 【零組件雜誌】高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼 2024-04-10 從電性量測中發現晶片故障亮點,逐層觀察到底層仍抓不到異常?礙於SEM沒有定量電性量測電流的功能,即使在SEM影像中偵測到異常電壓對比(VC)時,也無法得知異常點是發生在P接面還是N接面?… Read More 零組件雜誌 【新電子雜誌】差排密度/類型無所遁形 TEM分析揪出GaN單晶缺陷 2024-03-15 現在最夯的第三類半導體,以氮化鎵(GaN)和碳化矽(SiC)為主,這兩者亦是高頻通訊元件和功率半導體元件的二大材料。過去受限於部分材料取得不易且昂貴等因素,主要應用領域僅侷限於國防、航太等… Read More 新電子雜誌 【經濟日報】企業生日快樂/宜特強攻解決方案 成長添動能 2024-03-09 宜特(3289)董事長余維斌指出,發展30年來,已有國際大廠提出更多的合作需求,想與宜特長期合作三至五年。宜特一直布局驗證分析業務,未來將朝向解決方案的路線邁進,希望路可以走得更長遠,毛利率也更高… Read More 經濟日報 1 2 3 … 14