利用SMU(Source measurement unit)供應電壓或電流，驗證與量測半導體元件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲線等)。
MIM電容元件 漏電，用這五步驟，速找異常點iST 宜特能為你做什麼
可協助驗證及量測半導體電子元件的參數與特性，如：電容-電壓(C-V)、電壓-電流(I-V)、電阻(R)、電容(C)、電感(L)和訊號波形(Waveform)等。藉此了解元件的故障行為，以利後續的分析動作。
iST 宜特服務優勢
案例分享
- DC元件及導體元件特性量測
- 電性故障分析量測(EFA, Electrical Failure Analysis)
- 輔助後續電性測試(Force V measure I / Force I measure V)
- Keysight B1500A
- Keithley 4200
- Keithley 2450
- HP 4156A
C-V最高電壓25V、最高頻率 5 MHz。
I-V最多4 Channels、最高電壓200 V、最大電流1A，功率為20 W。