利用SMU(Source measurement unit)供應電壓或電流,驗證與量測半導體元件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲線等)。
利用SMU(Source measurement unit)供應電壓或電流,驗證與量測半導體元件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲線等)。
可協助驗證及量測半導體電子元件的參數與特性,如:電容-電壓(C-V)、電壓-電流(I-V)、電阻(R)、電容(C)、電感(L)和訊號波形(Waveform)等。藉此了解元件的故障行為,以利後續的分析動作。
快速便利
設備多元,可依據需求選擇不同設備。
高解析度,SMU可量測到10 fA。
搭配點針台可進行各種封裝型式的量測。