過度電性應力(EOS)/靜電(ESD)造成客退情形不曾間斷，IC過電壓承受能力較低，產品就有損壞風險。對成品廠商而言，除了要求IC供應商測試到所訂定的ESD防護等級，對於所選用的IC，其承受EOS的能力就更加關注。
iST 宜特能為你做什麼
iST宜特能協助您進行測試 ，提供Test to Fail的驗證與失效模式報告。藉此了解IC元件脆弱點與靜電承受度，作為您後續系統設計、IC電路設計調整、甚至後續RMA失效分析的依據。
- 人體放電模式(Human Body Mode)測試
- 機器放電模式(Machine Mode) 測試
- 元件充/放電模式(Charged Device Mode) 測試
- 製具式元件充/放電模式(Socket -Charge Device Mode) 測試
- 閂鎖效應(Latch-up) 測試
- 靜電放電閂鎖測式(Transient-Induced Latch up)
- 系統級靜電放電模式 (ESD GUN TEST)
- 測試ESD I-V Curve量測
- 過度電性應力EOS (Electrical Overstress)測試
失效模式
失效判斷: 參考點的電壓變化超過±30%
EOS試驗後，以OM顯微鏡找到IC元件脆弱點。
服務優勢
- 豐富的ESD測試經驗：提供有效的測試方案，讓您輕易找出產品問題點
- 快速交期：三班制24小時運作
- 測試結果準確度：靜電測試設備搭配自主建立設備維修保養機制定期定檢保障設備輸出，將可協助客戶取得高精準度之測試結果，降低設備有不正常輸出造成測試結果差異。
參考規範
- MIL-STD(美國軍規標準)
- EIA/JEDEC(固態技術協會規範)
- AEC(汽車電子協會規範)
- IEC(國際電工委員會)
- JEITA(日本靜電防護規章)
| IC ESD 參考規範 | MIL-STD | JEDEC | AECQ | Other |
|---|---|---|---|---|
| HBM (Human Body Mode) | MIL-STD-883 | JS-001 2017 | AEC-Q100-002 | |
| MM (Machine Mode) | JESD22-C115 | AEC-Q100-003 | ||
| SCDM (Socket CDM) | ANSI/ESD SP5.3.2 | |||
| CDM (Non-Socket) | JS002-2018 | AEC-Q100-011 | EIA/ESDA-5.3.1 |
| Latch-Up 參考規範 | MIL-STD | JEDEC | AECQ | Other |
|---|---|---|---|---|
| Room Temp. Test | JESD-78 | |||
| High Temp. Test | JESD-78 | AEC-Q100-004 |
| System ESD 參考規範 | MIL-STD | JEDEC | AECQ | Other |
|---|---|---|---|---|
| HBM (Human Body Mode) | AEC-Q200-002 | IEC61000-4-2 |
| HBM / MM / Latch Up 設備能量 | MK4 | MK2 | Zap Master | Zap Master HV |
|---|---|---|---|---|
| Pin Counts | 2304pin | 768pins | 256pins | 256pins |
| Voltage Supplies (Set) | 7 sets | 5 sets | 2 sets | 2 sets |
| ESD Ability | HBM = 8KV MM = 2KV |
|||
| Maximum V/I Current | 100V/18A | 30V/3A,100V/1A | 25V/1mA | 25V/1mA,125V/1mA |
| Maximum Discharge Rate | 10 Pulse/Sec. | 10 Pulse/Sec. | 3 Pulse/Sec | 3 Pulse/Sec |
| CDM / ESD Gun 測試能量 | CDM HANWA C5002 | ESD GUN Noiseken ESS-B3011 |
|---|---|---|
| ESD Ability | 0~4000V | Contact ± 30KV Air ± 30KV |
| Step Voltage | 5V | 500V |
HANWA CDM HED-C5000
執行SONY 原廠規範JEITA CDM測試設備(獨家)
| CDM / ESD Gun 測試能量 | CDM HANWA C5002 | ESD GUN Noiseken ESS-B3011 |
|---|---|---|
| ESD Ability | 0~4000V | Contact ± 30KV Air ± 30KV |
| Step Voltage | 5V | 500V |
- IC零組件與成品模組皆可進行測試