在產品的生命週期中,可能面臨各種溫度環境的條件下,使得產品在脆弱的部份顯現出來,造成產品的損傷或失效,進而影響到產品的可靠度。
常見失效模式
- 材料熱膨脹係數差異過大產生錫裂
(Solder Crack)
- 阻值異常
服務優勢
- 擁有Thermal Cycling Chamber大產能
- 提供客戶多達20000通道進行即時監控
參考規範
- JESD 22-A104
- IPC 9701
Temperature cyclic Chamber
- 消費性IC、車用Board Level
在產品的生命週期中,可能面臨各種溫度環境的條件下,使得產品在脆弱的部份顯現出來,造成產品的損傷或失效,進而影響到產品的可靠度。
此試驗並非真正模擬實際情況。其目的在施加嚴苛應力並加速老化因子於待測物上,藉此了解可能產生的潛在性損害系統設備及零組件的因素,以確認產品是否正確設計或製造。
Temperature cyclic Chamber