透過OM or SEM，配合探針(Prober)搭接於IC線路上，再外接各類電性量測設備，以輸入訊號或量測電性曲線。
iST 宜特能為你做什麼
在真空環境下，以點針(Prober)進行電性量測，避免外界環境的雜訊干擾，對於半導體元件故障分析，均能提供直接且快速的資訊。
iST 宜特服務優勢
案例分享
可在不同的包裝下進行量測，例如BGA Ball, Pad, FIB Pad
Vgs 對Ids的曲線圖，當電晶體的Vds電壓固定時，變動Vgs則Ids亦會改變，可以得到一條Vgs 對Ids的曲線圖。此曲線可以研究在通道中的載子(電子或電洞)是如何被提升到傳導帶，而通道形成的臨界電壓及線性區的臨界電壓都可以被測得，可研究電晶體相當重要的特性曲線。
- 元件電特性分析
- 微機電及IC微結構研究
- 可應用在高頻電路及FIB Probing PAD及Active Probe (500 MHz)。
- 實驗分析樣品使用EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve Tracer等機台無適當治具時，可用點針方式提供訊號之輸入輸出。
- Wafer可點針進行各項測試。
- 實驗室另架設有 Laser System，可做Laser Cut。