低壓雷擊測試(Surge Test)為電磁干擾能力之測試服務，可測試電子元件、電子線路板和電子設備等微電子系統產品，藉此檢驗是否能抵抗脈衝和雜訊的干擾。
iST 宜特能為你做什麼
可針對模組及元件進行測試，亦可搭配Probe Station點測與參數分析儀進行驗證。可輸出波形包括以下:
- 1.2 / 50 us (8 / 20 us)
- 符合IEC 61000-4-5 規範
- Open voltage waveform : 1.2 / 50 us
- Short circuit current waveform : 8 / 20 us (output impedance : 2 Ω)
- 5 / 50 us
- 10/ 100 us
- 10 / 200 us
1.2/50 us
10/100 us
5/50 us
10/200 us
服務優勢
- 支援度高，建置多種封裝形式的Socket
- 可搭配Probe Station進行點針測試
設備極限
- 電壓輸出-200V~+200V