首頁 Service ESD 保護元件之 TLP 電特性量測 ESD 保護元件之 TLP 電特性量測 2020-12-08by tanja TLP傳輸線脈衝產生器(Transmission Line Pulse),可針對ESD保護元件的電特性進行量測與驗證。原理為將測試脈衝(TLP)加到被測元件(Device Under TEST, DUT),步驟為:1對電路中的傳輸線路充電 2. 傳輸線路對DUT放電 。此測試將從小電壓脈衝開始,加大電壓到此DUT失效(FAIL)為止。 為何兩次的ESD測試結果會南轅北轍 iST 宜特能為你做什麼 過往ESD保護元件的性能評價方法,僅能告知其結果為PASS 或 FAIL,無法提供電特性,以進行更有效的設計變更。TLP裝置則以 PULSE方式量測ESD保護電路,可提供該電路I-V特性曲線;再搭配傳統ESD測試結果,可迅速查知電路的設計弱點,減少開發時間並降低開發成本。 案例分享 TLP量測曲線(TLP CURVE)Snapback(驟迴)保護結構 Snapback保護裝置會形成一個低阻抗通道用來排出ESD瞬間放電的能量。 設備極限 樣品量測IV Curve最大電壓200 V,TLP裝置Pulse最大電壓為2500V,電流50A。 聯絡窗口 | 雷先生/Rex | 電話:+886-3-5799909#6760 | email: web_EFA@istgroup.com 您可能有興趣的其他服務 IC層次去除(Delayer) IC開蓋封膠去除(Decap) 掃描式電子顯微鏡 (SEM) 原子力顯微鏡(AFM) 靜電防護/過度電性應力/閂鎖試驗(ESD / EOS / Latch-up)