首頁 聯絡窗口

聯絡窗口

週一至週五收送件時間
  • 8:30AM~9:00PM
  • 電話:+886-3-5799909#1111
  • 免費收送專線:0800-668-797
委案收送件窗口
假日收送件時間(含國定假日)
  • 8:30AM~4:00PM
  • 電話:+886-3-5799909#1111 或 0928-732111
  • 免費收送專線:0800-668-797
委案收送件窗口

業務聯繫窗口

  • 區域
  • 服務

台灣

全球

美國

日本(台灣窗口)

日本(代理商)

中國大陸

MOSFET/IGBT晶圓後段製程

IC Debug/可靠度測試/故障分析

材料分析

化學分析/各類輔導

訊號測試

工程聯繫窗口

  • 晶圓後段製程
  • 故障分析
  • 可靠度測試
  • 訊號測試
  • 化學分析/各類輔導
  • 材料分析
MOSFET/IGBT晶圓後段製程
樣品前處理

IC開蓋(Decapsulation)

打線封裝

IC開蓋(Delayer)

SMT樣品製備

研磨(Cross-Section/CP/Grinding)

FIB電路修改
故障點偵測
(EMMI/InGaAs/OBIRCH /InSb )
電特性量測
(TDR/Curve Tracer/NanoProbe/TLP)
物性分析(SEM)
非破壞分析
(OM/SAT)
競爭力分析(整合)
非破壞分析
(X-ray/3D X-Ray)

IC相關及其不明確案件諮詢:+886-3-5799909 分機 6775, 6796, 6773

晶圓可靠度
零件可靠度

Reflow/Thermal Shock/MSL

EMC(EMI. EMS) 電磁相容

OLT/HTOL

ESD/Latch up

板階可靠度(BLR)
系統可靠度驗證
  • 德凱宜特
  • 電話:+886-3-5795766
PCB設計驗證
汽車電子
有線訊號測試

HDMI/DP/USB

設計品質管理
化學分析
各類輔導
樣品處理與結構觀察

DualBeam FIB/Plasma FIB

TEM/EDX/EELS

表面與成份分析

FTIR/TMA/TGA/DSC

CAFM/AFM/SCM/WLI(OP)

XPS/AES/SIMS

投資人關係

投資人關係

新聞聯絡人

新聞聯繫