老化測試板(Burn-in Board)是什麼?應用於製程哪一階段?
老化測試板(Burn-in Board)是進行 Burn-in 測試的關鍵治具,主要應用於在高溫、高電壓等加速老化條件下,對半導體元件進行壽命篩選與早期失效偵測。透過 Burn-in 測試,有助於在產品出貨前排除潛在的早期失效(infant mortality),大幅提升產品的可靠度與穩定性。Burn-in Board 特別適用於對長期穩定性要求極高的應用領域,例如車用電子、工業控制系統、AI 加速器與伺服器平台。
本文將介紹老化測試板(Burn-in Board)的功能、類型、用途與優勢。
iST宜特老化測試板(Burn-in Board)設計優勢
- 車用晶片 Burn-in 測試
- AI 加速器壽命驗證
- 伺服器與通訊元件的高溫壽命測試
- 工控用 ASIC 的早期失效過濾
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