首頁 Service 低壓雷擊測試(Surge Test) 低壓雷擊測試(Surge Test) 2017-07-17by tanja 低壓雷擊測試(Surge Test)為電磁干擾能力之測試服務,可測試電子元件、電子線路板和電子設備等微電子系統產品,藉此檢驗是否能抵抗脈衝和雜訊的干擾。 iST 宜特能為你做什麼 可針對模組及元件進行測試,亦可搭配Probe Station點測與參數分析儀進行驗證。可輸出波形包括以下: 1.2 / 50 us (8 / 20 us) 符合IEC 61000-4-5 規範 Open voltage waveform : 1.2 / 50 us Short circuit current waveform : 8 / 20 us (output impedance : 2 Ω) 5 / 50 us 10/ 100 us 10 / 200 us 1.2/50 us 10/100 us 5/50 us 10/200 us 服務優勢 支援度高,建置多種封裝形式的Socket 可搭配Probe Station進行點針測試 設備極限 電壓輸出-200V~+200V 聯絡窗口 | 邱先生/Shaun | 電話:+886-3-5799909#6788 | email: web_EFA@istgroup.com 您可能有興趣的其他服務 ESD保護元件之TLP電特性量測 靜電防護/過度電性應力/閂鎖試驗 (ESD/EOS/Latch-Up) 掃描式電子顯微鏡 (SEM) IC開蓋封膠去除(Decap)