穩態試驗(Steady-state Test)是藉由高溫、高濕的加速因子下，驗證評估非密封性包裝之電子零阻件中，封裝材質與內部線路對濕氣腐蝕抵抗的能力。而上板後與元件接合的位置(Solder Joint)，會因溫度、濕度與外在偏壓(Bias)，加速使金屬解離後，游離至另一極性(電子遷移，Migration)，產生金屬沉積、形成Dendrite，導致短路進而影響壽命。