首頁 Service 故障解析 故障解析 2017-07-12by tanja 数多くのIC回路異常に対し、正しいツールで解析しましょう! 解析を正しい判断して、修正方向を決めます! iSTで20年を超える実績と経験で、故障箇所を迅速に特定でき、フルソリューションを提供します。 返品解析 返品解析 信頼性試験後の故障解析 C/P, F/T, PCBA後のサンプル分析 第三者分析機関のレポート コンサルディングサポート豊富な実績と経験装置完備 ワンストップサービス one-stop サービス電気特性調検査Electrical Verification 非破壞分析Non-destructive Inspection サンプル前処理Sample Preparation 故障点検出Failure Site Localization 物性分析(Physical Analysis) その他のサービス競争力分析 サービス内容 電気特性調査半導体部品パラメーター分析 IVカーブ特性測定(IV Curve) プローブおよび探針信号測定(Prober & Nano Prober) ESD保護回路のTLP電気特性測定 導電性原子間力顕微鏡(C-AFM) 非破壞分析高解像度デジタル顕微鏡(3D OM) 超音波探傷検査(SAT検査) X線検査(2D X-ray) 解像度3D X-Ray顕微鏡 サンプルの前処理ICモールド開封(Decap) IC回路レイヤー剥離(Delayer) 横断面/背面研磨(Cross-section & Backside) イオンビーム断面研磨 (CP) 故障点検出エミッション顕微鏡(EMMI) ヒ化ガリウムインジウムエミッション顕微鏡(InGaAs) 光ビーム加熱抵抗変動異常検出(OBIRCH) Thermal EMMI(InSb) 競争力分析IC構造/コスト分析