量測晶圓粗糙度一定要破片?靠AFM ICON給你滿滿大平台 2017-04-25 在晶圓尚未上電路(Pattern)之前,須了解晶圓是否平整,得以確認後續Layout狀況。當晶圓上了電路之後,更需監控粗糙度數據,才能確保後續上板後的品質… Read More 表面分析、材料分析 如何將 HDR 技術運用至顯示器,使高畫質影像傳輸不失真 2017-04-21 對於影像顯示技術而言,追求貼近人眼所能見到的真實世界是必然趨勢。在 4K 電視技術的普及、廣色域的使用… Read More 訊號測試、HDR 3D 元件失效,用這三步驟,defect 立馬現形 2017-03-29 為因應電子產品對效能需求,因此有了3D晶片堆疊技術產生。但問題來了,這樣的技術所產生的元件,在失效後分析也更加困難,傳統的封裝元件只需在XY面的2D平面定位,即能有效找出失效位置,但3D元件還需要考量到Z軸位置,且晶片在上下堆疊重疊下,更不容易找到失效位置… Read More Defect、故障分析 跳脫黑與白,戴上彩色眼鏡輕鬆判別P/N type 2017-01-11 常用來判斷P/N well的方式,是將晶片染色 (stain)後,再利用SEM(掃描式電子顯微鏡)拍攝其寬度、深度及量測磊晶層厚度,但是SEM的電子影像為黑白圖像,無法有確切的數據或顏色可以分辨P/N well,往往需要自行判斷與猜測… Read More 表面分析、材料分析 超過 100 um大範圍結構觀察,如何做Cross section? 2016-10-26 Plasma FIB,不僅擁有Dual-Beam FIB雙槍設計邊切邊拍,針對大範圍結構觀察,可完整呈現欲觀察之結構,蝕刻效率更是Dual-Beam FIB的20倍以上.. Read More 結構分析、材料分析 智慧型產品螢幕不轉動,MEMS元件異常點如何找? 2016-08-18 智慧型產品螢幕動不了,是當機嗎? 還是哪個元件出了問題? 發現是MEMS元件失效,是漏電、是卡住? 還是 off-set? Read More Defect、故障分析 1 … 16 17 18 19 20