首頁 技術文庫

技術文庫

首頁 技術文庫

技術文庫

by admin
如何利用SEM全視界影像技術,逆向透視奈米等級製程,避免侵權?
2018-11-19

那要如何清楚透視微奈米級的線路避免專利糾紛?可利用大範圍掃描拍照拼圖達四萬倍、局部拍照可達百萬倍的掃描電子顯微鏡(SEM)來進行拍照…