HDR（高動態範圍）已成電視標準規格，身為顯示工程師的您，已依標準規範進行設定，畫面為何仍有不連續的輪廓問題?是EOTF設定出錯、還是晶片商設計有誤，該如何調校…
通訊晶片和以矽元素組成的晶片相比，最大不同在於通訊元件封裝形式較單純，使用層數較少，在找失效點前的樣品製備上，不適合用delayer方式..
在晶圓尚未上電路(Pattern)之前，須了解晶圓是否平整，得以確認後續Layout狀況。當晶圓上了電路之後，更需監控粗糙度數據，才能確保後續上板後的品質…
為因應電子產品對效能需求，因此有了3D晶片堆疊技術產生。但問題來了，這樣的技術所產生的元件，在失效後分析也更加困難，傳統的封裝元件只需在XY面的2D平面定位，即能有效找出失效位置，但3D元件還需要考量到Z軸位置，且晶片在上下堆疊重疊下，更不容易找到失效位置…
常用來判斷P/N well的方式，是將晶片染色 (stain)後，再利用SEM(掃描式電子顯微鏡)拍攝其寬度、深度及量測磊晶層厚度，但是SEM的電子影像為黑白圖像，無法有確切的數據或顏色可以分辨P/N well，往往需要自行判斷與猜測…