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by admin
使用TEM分析憶阻器(memristor)結構
2019-04-08

宜特TEM材料分析實驗室協助美國賓州大學教授為了分析憶阻器(memristor)的顯微結構,此研究最終也獲刊於Nature Electronics..

液態材料的缺陷,如何用SEM檢測?
2019-03-04

往往我們可以檢測的大多是固態樣品,但若遇到欲檢測的物品是液態,或者懷疑Defect來自於製程中的液態物質該如何分析呢?針對一般的樣品,以往我們會使用SEM檢測,然而….

小於30μm未知汙染物,如何分析?
2019-02-20

隨著製程越來越進步,對於污染缺陷點的分析要求也越來越嚴苛。這些表面汙染缺陷,該如何選擇到位的分析方式呢?一般而言,若待分析汙染物屬於有機物範疇,我們會選擇….

如何選擇適當表面分析儀器,抓出製程汙染缺陷
2018-08-29

IC有問題,想抓出缺陷,卻總是選錯分析方式與儀器?近乎隱形的製程問題,奈米等級的表面汙染缺陷,該如何選擇到位的分析方式呢?宜特在驗證分析領域耕耘20多年…

如何不破壞樣品,分析晶體結構與薄膜特性?
2018-01-24

透過X光與晶體產生的繞射圖譜並配合資料庫比對,可解析材料的織構、晶體排列的方式,作為評估材料特性的一種非破壞式分析…

晶圓/LED製程工程師必看! 計算P/N離子濃度利器是…
2017-12-26

和身為晶圓/LED製程工程師的您分享,得知P/N 離子濃度分佈的絕佳利器-二次離子質譜分析技術(SIMS)…

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