自動化Die Bonding 黏晶技術, 工程樣品快速封裝無礙 2019-11-11 黏晶Die Bonding製程為半導體後段封裝製程重要一段,隨半導體演進及通訊產品對更高頻率訊號表現,發展出多種黏晶製程,利用自動化設備取代人工作業是必然趨勢。自動化黏晶製程共分為晶粒挑揀 Die Sorting… Read More 工程樣品製備 如何驗證電子產品是否會發生爬行腐蝕Creep Corrosion失效 2019-09-04 電子產品易受到環境中的腐蝕性氣體、水分、汙染物、和懸浮微粒的影響,讓敏感性電子元件與印刷電路板產生爬行腐蝕 Creep Corrosion 的失效現象,嚴重恐導致設備電氣短路故障的風險。因此,在產品出廠前,驗證未來產品是否有抵抗爬行腐蝕的能力極為重要… Read More 加速腐蝕、可靠度設計驗證 別再傻傻一路測到掛 車用先進封裝翹曲Warpage如何解 2019-08-14 傳統封裝型式穩定可靠,是汽車電子的絕佳選擇,但隨著車用走向車聯網形式之後,先進封裝晶片銳不可擋,特別在先進封裝晶片上板至PCB的車用先進封裝翹曲問題,是一大挑戰,該如何克服? Read More 翹曲、可靠度設計驗證 掐指算出Warpage翹曲變形量 速解IC上板後空焊早夭異常 2019-08-05 IC上板SMT後,可靠度試驗卻過不了,原來是翹曲(warpage) 導致空焊早夭。是否能夠在SMT前透過模擬掌握warpage狀況避免異常呢? 宜特Warpage量測分析速度快,可得知元件在不同溫度變形量,也能模擬溫度循環環境,協助客戶與可靠度測試搭配,觀察產品在… Read More 翹曲、可靠度設計驗證 新封裝新挑戰,車用零件可靠度兩大問題,有解嗎 2019-07-29 電動車與車聯網等ADAS的普及速度加快帶動下,半導體封裝技術愈來愈先進,但新封裝也讓車用零件可靠度有了新挑戰。宜特本月解你的痛影片,將由宜特可靠度RA達人帶您了解新封裝新挑戰,車用零件可靠度 的兩大問題與解決之道… Read More 車用電子驗證、可靠度設計驗證 IC Repackage移植技術 助先進封裝晶片檢測無礙 2019-06-10 當IC發生defect時,想分析其中一顆元件的異常狀況,又礙於SiP、MCM、MCP、QFP內部打線或基板線路互聯的關係,將導致電性測試時,容易受到其他Chip或元件影響,造成判定困難,該如何解決此狀況… Read More 故障分析 1 … 10 11 12 13 14 … 20