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by admin
HDR高動態範圍影像不失真,亮度該如何調校
2017-06-08

HDR(高動態範圍)已成電視標準規格,身為顯示工程師的您,已依標準規範進行設定,畫面為何仍有不連續的輪廓問題?是EOTF設定出錯、還是晶片商設計有誤,該如何調校…

如何速找IC漏電源(Hot Spot)
2017-05-23

通訊晶片和以矽元素組成的晶片相比,最大不同在於通訊元件封裝形式較單純,使用層數較少,在找失效點前的樣品製備上,不適合用delayer方式..

量測晶圓粗糙度一定要破片?靠AFM ICON給你滿滿大平台
2017-04-25

在晶圓尚未上電路(Pattern)之前,須了解晶圓是否平整,得以確認後續Layout狀況。當晶圓上了電路之後,更需監控粗糙度數據,才能確保後續上板後的品質…

如何將 HDR 技術運用至顯示器,使高畫質影像傳輸不失真
2017-04-21

對於影像顯示技術而言,追求貼近人眼所能見到的真實世界是必然趨勢。在 4K 電視技術的普及、廣色域的使用…

3D 元件失效,用這三步驟,defect 立馬現形
2017-03-29

為因應電子產品對效能需求,因此有了3D晶片堆疊技術產生。但問題來了,這樣的技術所產生的元件,在失效後分析也更加困難,傳統的封裝元件只需在XY面的2D平面定位,即能有效找出失效位置,但3D元件還需要考量到Z軸位置,且晶片在上下堆疊重疊下,更不容易找到失效位置…

跳脫黑與白,戴上彩色眼鏡輕鬆判別P/N type
2017-01-11

常用來判斷P/N well的方式,是將晶片染色 (stain)後,再利用SEM(掃描式電子顯微鏡)拍攝其寬度、深度及量測磊晶層厚度,但是SEM的電子影像為黑白圖像,無法有確切的數據或顏色可以分辨P/N well,往往需要自行判斷與猜測…