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CoWoS, EMIB, SoIC等先進封裝如何精準貼裝且順利重焊(Rework)?
2026-08-21

一顆CoWos、EMIB等高階AI伺服器晶片動輒百萬台幣,若因焊接不良直接報廢,無疑是研發惡夢! 客戶最常來問:「大尺寸晶片能用什麼工具貼裝?晶片重工維修Rowork時又該如何確保品質?」

3D IC Short能用傳統電性工具定位找Defect,但遇到IC Open怎麼解?
2026-07-14

在CoWoS、3D IC等先進包裝時代,晶片異常了,明明看得到Short,卻完全抓不到Open!熱能散成一團,根本分不清這團熱點底下到底是哪個異常故障點,讓人好崩潰…

半導體材料分析的「超強濾鏡」!一次看懂EELS全方位應用
2026-06-30

EELS應用 你真的都了解了嗎? 材料分析專家鮑忠興博士深談穿透式電鏡利器—EELS應用的四大核心:精準鑑定微奈米級元素化學鍵結狀態、繪製同素異態分佈映像圖、在當下觀測條件下直接量測TEM試片厚度…

矽光子可靠度驗證該依循哪個規範?當老規範GR-468遇上新科技,系統如何順利Bring-up?
2026-06-04

矽光子晶片量產元年已在眼前,但業界迄今仍缺乏一套專屬標準,最權威的依據是問世逾廿年Telcordia GR-468,研發者又該如何在標準斷層中,確保產品順利通過 Bring-up 考驗並成功量產?

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IC設計如何進入車廠供應鏈?一次搞懂 AEC-Q004 車用零缺陷框架
2026-05-26

IC 設計業者因為「沒有自有晶圓廠」,不知該如何向車廠證明自家晶片的「零缺陷」品質嗎?那AEC-Q004《車用零缺陷框架》就是破局關鍵!本文帶您看懂如何找到和車廠的共同語言…

AEC規範沒寫的,就不用測嗎?當車用Pass報告已不足以拿到訂單怎麼辦?
2026-05-12

如果研發工程師的目標,僅僅是為了「拿到Pass結案」,就完全喪失了可靠度測試的初衷。做測試的真正目的,是要回答一個最核心的課題:「所開發的產品到底何時失效?以及為何失效?」