本文介紹宜特最新全球智慧驗證可靠度中心，如何結合智慧監控、即時反饋、全球連線功能，協助工程師打造出高效、準確且可遠端監控的測試系統…
本篇宜特小學堂文章將探討X-ray對電子元件造成的電氣故障模式、關鍵測試變數，以及X-ray輻射總電離劑量（TID）測試最終報告內容，跟各位分享如何透過宜特的「寄生輻射劑量沉積驗證平臺」，有效預防潛在故障風險。
電動車技術的快速發展，隨著電壓與功率的提升，產品可靠度的挑戰也隨之增加。日益嚴格的驗證標準，如何滿足？繁雜的國際規範，又該如何掌握？是否有適用於高電壓高功率產品的完整驗證解決方案？
當TEM/EDS分析涉及碳、氮、氧等輕元素，若無特殊校正技術，成分分析的準確性將難以保證。本文介紹自我校正技術，透過參考相修正EDS數據，大幅提升氧化物、氮化物等分析的準確度，並以GaN薄膜案例驗證其應用成效…
FIB電路修補時切錯點、接錯線，讓你胃食道逆流嗎？本期宜特小學堂，帶您一次掌握FIB（Focused Ion Beam）電路修補全攻略！用最少的成本和時間完成設計驗證，不再掉進無限循環的debug地獄，高效完成設計驗證。
A14製程即將問世，原子探針斷層掃描器（APT）成為新興的材料分析技術，現已成功應用於多種材料和半導體元件。那麼，APT的原理機制究竟是什麼？而APT針尖型的樣品又該如何製備呢？