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媒體報導

【新電子雜誌】可靠度分析/設備解方助攻 3D封裝技術挑戰過關斬將
2023-09-01

3D封裝有效提高晶片效能,但仍要克服散熱及翹曲等技術瓶頸。從材料的角度分析,材料的選擇與整合方式都會影響晶片的散熱能力。在晶片堆疊時,如果兩片晶圓翹曲的方向不一致,就會難以執行…

【Digitimes x IC之音】協助業者打入車用供應鏈背後的隱形人、「減碳.零碳」是供應鏈取得電車新賽道的入場門票!
2023-08-17

宜特科技在成立即將30周年之際,接受「Digitimes x IC之音」節目邀請,聊聊宜特如何從藏身民宅,成長到破千人的集團規模,以及宜特如何從單一服務項目,觸角一路延伸到國際市場的奮鬥過程…

【新電子雜誌】解析新世代化合物半導體特性 超寬能隙材料熱導性更驚豔
2023-07-11

隨著電能需求的大增,高電壓、大電流、傳輸快、散熱佳是未來新世代材料的必要條件。基本上,要能承受較高的電壓條件,即是半導體材料的能隙(Eg, Energy Band gap)要夠大,才可承受更高的臨界場(Critical electric field),以達到穩定快速又更高功率的轉換與輸出。要如何量得能隙的數值呢?宜特材料分析實驗室建議…

【新電子雜誌】數位技術搭配合規文化 永續是考驗更是商機
2023-06-15

ESG永續發展已經從風險管理演變為創新與機會的驅動力,由於其涵蓋的面相非常廣泛,不只是在環境領域,還包含了社會與公司治理層面,如何在大框架下,找出施行重點,並且針對重點提升ESG相關績效,是現今多數企業正面臨的挑戰…

【新通訊元件雜誌】確保顯示器雙功能相容性 Type-C測試須留意五大風險
2023-05-30

歐盟議會正式通過,自2024年底起,強制要求各類於歐盟銷售的手機、平板、數位相機等消費性電子產品,都必須統一使用USB Type-C充電介面。市場更傳言,下一代蘋果旗艦手機iPhone 15系列,也將改用USB Type C傳輸埠…

【新電子雜誌】從材料晶體結構強化先進封裝 EBSD精準解析掌握封裝可靠度
2023-05-01

隨著先進製程的發展,晶片尺寸已經接近1奈米的物理極限,摩爾定律正步入尾聲,而先進封裝技術已成為下一個關鍵發展方向。尤其是具備高度晶片整合能力的「異質整合」封裝技術,已成為超越摩爾定律的重要技術之一。但是,異質整合的先進封裝技術,也面臨到許多可靠度上的疑難雜症,需要進行前期的驗證分析以確認研發品質…

【新電子雜誌】自動量測精準分析先進製程參數 TEM量測助2nm製程不卡關
2023-04-20

當半導體製程逐漸縮小至3nm甚至2nm節點(Node),精準量測每個關鍵參數,並以大數據(Big Data)技術優化生產方法,對於改善製程良率至關重要。但傳統手動量測方法效率低、誤差大,成本又高。因此,唯有透過自動量測,才能快狠準取得正確參數…

【新通訊元件雜誌】衛星元件點石成金術 完整測試驗證成就太空夢
2023-03-20

iPhone 14開啟衛星直連服務,2023正式發表的Android 14也傳言將導入相關服務,低軌道衛星產業化如火如荼,台灣資通訊通訊產業摩拳擦掌,希望在產業鏈中佔有一席之地,然而航太產業對於電子元件的要求高,幾乎是所有應用領域最嚴苛的,如何取得…

【Digitimes x IC之音】解讀半導體景氣密碼
2023-03-16

宜特很榮幸受到IC之音節目邀請,從宜特的驗證分析服務談到2023年科技產業趨勢,本次邀請到可靠度工程處副總經理曾劭鈞為您開講,內容豐富精彩,歡迎前往連結收聽喔!…