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車用功率元件高電壓時代來襲!兩大面向確保WBG可靠度
2025-04-22

電動車技術的快速發展,隨著電壓與功率的提升,產品可靠度的挑戰也隨之增加。日益嚴格的驗證標準,如何滿足?繁雜的國際規範,又該如何掌握?是否有適用於高電壓高功率產品的完整驗證解決方案?

想提升第三類半導體輕元素準確度?必學TEM/EDS定量分析自我校正
2025-03-18

當TEM/EDS分析涉及碳、氮、氧等輕元素,若無特殊校正技術,成分分析的準確性將難以保證。本文介紹自我校正技術,透過參考相修正EDS數據,大幅提升氧化物、氮化物等分析的準確度,並以GaN薄膜案例驗證其應用成效…

1 Line 2 Cut該接哪條、切哪條?IC設計FIB電路修補全攻略
2025-02-18

FIB電路修補時切錯點、接錯線,讓你胃食道逆流嗎?本期宜特小學堂,帶您一次掌握FIB(Focused Ion Beam)電路修補全攻略!用最少的成本和時間完成設計驗證,不再掉進無限循環的debug地獄,高效完成設計驗證。

突破A14先進製程挑戰 原子探針斷層掃描儀APT如何引領材料分析新時代
2025-01-07

A14製程即將問世,原子探針斷層掃描器(APT)成為新興的材料分析技術,現已成功應用於多種材料和半導體元件。那麼,APT的原理機制究竟是什麼?而APT針尖型的樣品又該如何製備呢?

電競需求推高顯示器規格,DisplayPort測試案例解析
2024-11-26

隨著電競市場的蓬勃發展,對高性能顯示技術的需求日益增強,DP卓越的通道傳輸能力,多顯示器連結能力及多樣性的周邊擴展,成為市場上關鍵的視訊接口…

先進製程晶片可靠度過不了 竟是晶圓切割問題 該如何解決
2024-11-05

在半導體製程中,您是否遇到過傳統晶圓切割機,在處理高硬度或脆性材料時,出現切割不均或邊緣破損的情況