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媒體報導

【新電子雜誌】採用TEM分析晶體結構 AlGaN磊晶光學性質再強化
2022-12-01

以Ga2O3氧化鎵為主的第四代半導體躍上檯面,將成為下一個明日之星,如何鑑定呢? 本文將呈現如何應用宜特材料分析實驗室的穿透式電子顯微鏡(TEM)分析技術鑑定俗稱第四代半導體-氧化鎵(Ga2O3)磊晶層的晶體結構,晶體形貌與組成…

【新電子雜誌】取得電路布局 避免侵權 半導體逆向工程知己知彼
2022-11-01

逆向工程 (Reverse Engineering),對於不熟悉此工程的人,常常將之與駭客、盜版、竊盜連結在一起。但其實不盡然,隨著專利戰盛行,逆向工程對於許多企業而言,不僅是用來保護自身的專利,確保競爭對手不能非法使用這些專利,同時也保護自己不會侵犯到競爭對手的專利…

【新電子雜誌】車電產品製程稽核不可輕忽 VDA 6.3強化供應鏈品管
2022-10-07

大部分的企業欲打入車用供應鏈,多數都認識IATF 16949,為何還需要導入VDA 6.3? 如果您的產品或服務供貨給德國汽車產業或VDA的成員(常見成員包括BMW、Audi、BOSCH 等近六百個成員),那就必須符合 VDA 各項系列標準….

【新電子雜誌】電動/自駕挑戰待解 車用晶片供應鏈靈活應萬變
2022-10-07

車用晶片缺貨潮尚未完全緩解,加上汽車技術朝向電氣化跟自駕演進的趨勢下,整車所需的晶片數量大幅上升,現有的晶片產能還未能滿足市場需求。同時車用晶片的功能與算力不斷增加,封裝技術變得更為複雜,驗證流程也因此拉長,發展自駕與電動技術過程中挑戰重重…

【新電子雜誌】沉著應對斷鏈危機 車用晶片供應鏈突圍
2022-10-07

車用晶片供應鏈歷經疫情衝擊,晶片缺貨的狀況尚未全數緩解,在晶片供不應求的情況下,車用晶片需要長時間驗證的特性,為汽車供應鏈帶來更艱難的挑戰。為此,晶片供應商透過優化整體晶片開發流程,確保在不壓縮驗證時間的前提下,提高晶片生產速度…

【新電子雜誌】發掘製程可疑缺陷 IC切片把關樣品功能性測試
2022-09-30

IC設計後,在進行後續的樣品功能性測試、可靠度測試,或故障分析除錯前,必須針對待測樣品做樣品製備前處理,透過IC切片方式,進行斷面/橫截面觀察。然而觀察截面的方式有好多種,該如何選擇哪一種切片手法,才能符合您欲觀察的樣品型態呢?…

【新電子雜誌】拆解先進封裝晶片失效原因 強化Daisy Chian後失效分析
2022-07-07

板階可靠度是國際上常用來驗證焊點強度的實驗手法,透過將模擬元件組裝於PCB,重現出可能會發生的錫球焊接問題。但是,當進行完一系列的板階可靠度驗證後,結果居然Fail?!該透過哪些步驟進行故障分析,才能找到阻值變化的原因? …

【新電子雜誌】板階可靠度測試萬無一失 PCB測試版模擬超前部屬
2022-06-06

在BLR測試中,所需的PCB測試板,本身材料、厚度、走線層面等,不僅須要遵照相關國際規範的要求,更是影響可靠度測試結果的關鍵。到底,PCB測試板該如何設計,有哪些Know How呢?…

【新電子雜誌】三步驟判讀MTTF數值 半導體可靠度壽命預估有解
2022-04-12

隨市場需求走向系統級設計(SiP)、系統單晶片(SoC)、POP、三維(3D)和3D矽穿孔(TSV)等高階先進封裝技術,各種不同材質、不同功能的晶片整合進同一封裝,這樣的封裝元件使用的材料相當複雜且多元,在可靠度壽命的預估上,亦是現階段,各家廠商關注的重點之一…