首頁 媒體報導

媒體報導

【新電子雜誌】拆解先進封裝晶片失效原因 強化Daisy Chian後失效分析
2022-07-07

板階可靠度是國際上常用來驗證焊點強度的實驗手法,透過將模擬元件組裝於PCB,重現出可能會發生的錫球焊接問題。但是,當進行完一系列的板階可靠度驗證後,結果居然Fail?!該透過哪些步驟進行故障分析,才能找到阻值變化的原因? …

【新電子雜誌】板階可靠度測試萬無一失 PCB測試版模擬超前部屬
2022-06-06

在BLR測試中,所需的PCB測試板,本身材料、厚度、走線層面等,不僅須要遵照相關國際規範的要求,更是影響可靠度測試結果的關鍵。到底,PCB測試板該如何設計,有哪些Know How呢?…

【新電子雜誌】三步驟判讀MTTF數值 半導體可靠度壽命預估有解
2022-04-12

隨市場需求走向系統級設計(SiP)、系統單晶片(SoC)、POP、三維(3D)和3D矽穿孔(TSV)等高階先進封裝技術,各種不同材質、不同功能的晶片整合進同一封裝,這樣的封裝元件使用的材料相當複雜且多元,在可靠度壽命的預估上,亦是現階段,各家廠商關注的重點之一…

【新電子雜誌】減少翹曲節省成本 低溫焊接製程急奔碳中和
2022-01-19

在全世界共同追求碳中和的聲浪中,蘋果(Apple)已在《2020環境進展報告》中表示,為了實現碳中和,計畫將所有業務、生產供應鏈及產品生命週期的淨碳排放量降為零。中國近期也因應碳中和,嚴格執行「能耗雙控」政策,在十多個省區實施限電。碳中和已不僅是各國的環保議題…

【新電子雜誌】板階可靠度測試品質把關不漏接
2021-10-19

過去,IC設計廠商送產品進行檢測時,通常只有針對元件,元件測試雖沒有問題,但組裝於印刷電路板(PCB)時,卻發生問題,以致於產品必須重新送回檢測,費時又費力,也支付更多附加成本…

【新電子雜誌】善用表面分析尋找製程缺陷
2021-09-10

半導體生產過程中,難免會產生污染,常見的微粒異物很容易被光學或電子顯微鏡檢測出,然而有一類異常汙染卻是無法被發現的,例如表面氧化或微蝕的殘留汙染,近數奈米如幾個原子層的厚度…

【新電子雜誌】被動元件硫化腐蝕精準驗證
2021-08-12

近年來由於人工智慧(AI)、5G、大數據、物聯網(IoT)、邊緣運算、高效能運算與電動車的廣泛應用,讓電子被動元件的使用越來越多。因此電子產品的硬體設備可靠度能力,也越來越受到業界所重視……

【新電子雜誌】掌握可靠度驗證成功之道 釐清預處理/MSL試驗差異
2021-06-28

關於可靠度驗證相信大家都不陌生,何謂RA,就是以量化數據做為產品品質保證之依據,藉由實驗模擬,產品於既定時間內、特定使用環境條件,執行特定……

【新電子雜誌】寬能隙半導體應用起飛 GaN/SiC驗證分析全面啟動
2021-05-28

半導體業持續在製程中追求可實現高能效、低能耗的新材料。而寬能隙半導體因符合上述條件,已逐漸成為市場看好的新興材料,並逐步導入消費市場。而本文從…