聯絡我們   回首頁   English   簡中  
 
 
 
 
 
 
 
 
 



材料分析
 

微觀尺寸的材料成份、特性與結構往往主宰著巨觀世界裡的物質特性, 因此在新技術開發階段或是失效分析領域中材料分析皆扮演著重要的地位。精密的分析儀器與豐富經驗的完美搭配才能完成一次成功的材料分析,本實驗室設置有完整的分析設備,包括結構分析的高解析度FE-SEM, TEM...等、成份分析的AES, EDS ...等、熱分析的TMA、單一電晶體電性量測的Nano-probing,再加上實驗室人員的豐富實際經驗與專業知識,如IC Process / Package/ Lead-free/ IMC/ Tin Whisker...等等,必能解決客戶各式各樣的需求。此外,更結合本公司先進的樣品備置技術,如微蝕刻、離子拋光...等,以提供完整與迅速的服務。

我們提供以下服務:
   Chemical Structure Identification (FTIR, UV-Vis) 
   Elemental Testing (EDS, EDXRF, ICP-OES) 
   Microscopy (optical, SEM, TEM) 
   Chromatography and Separations (HPLC, IC, GC) 
   Mass Spectrometry (GC-MS) 
   Surface Analysis (SIMS, ESCA) 
   Thermal Analysis (TMA)

無機化合物
GAAS,FLAAS,ICP-OES,UV-Vis,IC,EDXRF,Auger,SEM/EDS,TEM
有機化合物
Headspace-GC-MS,GC-ECD/MS,GC-ECD/MS/MS,GC-FID,GC-ECD,GC-AED,GC-FPD,HPLC-DAD,HPLC-FPD,UV-Vis,μ-FTIR/ATR
 

結構觀察
掃描式電子顯微鏡 (SEM)
穿透式電子顯微鏡 (TEM)
雙束聚焦離子束(Dual-beam FIB)
雙束電漿離子束 (Plasma FIB)
表面分析
歐傑電子能譜儀 (AES)
原子力顯微鏡(AFM)
二次離子質譜儀 (SIMS)
白光干涉儀(WLI)
熱能分析
熱機械分析儀(TMA )

成份分析
二次離子質譜儀 (SIMS)
掃描式電子顯微鏡 (SEM)
穿透式電子顯微鏡 (TEM)
歐傑電子能譜儀 (AES)
X光光電子能譜儀 (XPS/ESCA)
  

 
台灣據點      |       中國據點      |       美國據點      |       日本據點     |       標準科技     |      夥伴關係
Designed by CREATOP