大範圍、高解析如何兼具? 奈米級表面形貌分析新境界 2020-09-15 有高解析度與大範圍掃描的需求,有機會兼得嗎? 宜特與設備商合作,提供高達50,000微米(um)大範圍,同時兼具高解析掃描的量測解決方案,一次擷取整個掃描行程中的形貌起伏,不再需要擔心分段掃描帶來的誤差與不確定性,大幅提升量測輸出效率… Read More AFM、材料分析