首頁 技術文庫 技術文庫 2017-05-28by admin 先進製程新材料特性 就靠它來驗 2022-09-13 在半導體製程中,一旦更換了材料,就必須考慮製程設備是否也需改變,設備變更後所生產的樣品是否堪用、品質是否穩定符合原來IC設計的規格,因此在挑選新材料的開發時期以及確認材料變更後的生產驗證,勢必要進行一連串嚴格的材料分析…. Read More XRD、材料分析 如何不破壞樣品,分析晶體結構與薄膜特性? 2018-01-24 透過X光與晶體產生的繞射圖譜並配合資料庫比對,可解析材料的織構、晶體排列的方式,作為評估材料特性的一種非破壞式分析… Read More XRD、材料分析