發佈日期：2016/6/21
發佈單位：EETtaiwan
隨半導體產業朝更先進制程發展之際，宜特(iST)材料分析(Material Analysis，MA)檢測技術再突破。宜特宣佈，TEM材料分析通過國際級客戶肯定，驗證技術達5奈米制程。
宜特近期不僅協助多間客戶在先進制程產品上完成TEM分析與驗證，其技術能量更深獲IEEE半導體元件故障分析領域權威組織IPFA(International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits，積體電路失效分析論壇)肯定，連續數年通過大會審核，於期間發表最新研究成果。
宜特觀察發現，近年來，企業為了打造效能更高、功耗更低、體積更小的半導體元件以滿足現今智慧產品之需求，各大廠在先進制程開發的腳步越來越快，已從前年20奈米、去年14奈米制程，陸續在今年往10奈米、7奈米制程進行量產準備；而多家半導體大廠，今年更已朝5奈米制程進行研發藍圖，因此帶動整個供應鏈的材料分析需求。
EETtaiwan原文報導：http://www.eettaiwan.com/ART_8800722138_617723_NT_b4a581a0.HTM