發佈日期：2015/1/13
發佈單位：電子工程專輯
立錡科技(Richtek Technoloy)與宜特科技(Integrated Service Technology；iST)宣佈一項 MEMS 檢測合作成果，雙方針對立錡積極開發的 MEMS G-Sensor 提出最佳分析除錯解決方案。
基於宜特建構出的一代 MEMS G-Sensor 標準失效分析流程，2013年雙方已有成功的合作經驗；2014年在二代 MEMS 分析技術，再度攜手合作，順利協助立錡在 MEMS 設計階段釐清失效因素，此分析技術更獲得 ISQED (國際品質電子設計研討會)認可。
隨智慧型產品、穿戴式裝置與物聯網的需求下， MEMS G-Sensor 元件需求量逐步放大，IC設計公司積極佈局，渴望取得市場先機，佔有一席之地。
宜特科技故障分析工程處處長許如宏表示，宜特運用二代 MEMS 分析技術，順利的將 MEMS G-Sensor 「全品質塊」在無應力狀態下移除，移除後即觀察到底層「固定品質塊」下方的接合處毀損；該失效異常點與電子異常訊號，經檢測後為一致，即為失效真因。
電子工程專輯原文報導：http://www.eettaiwan.com/ART_8800708809_480502_NP_11d125fb.HTM