名額有限，所有申請均需審核後方可核准。申請獲批後，您將收到確認郵件。 出於職業禮貌，如果您的公司與主辦、協辦或演講單位具有直接競爭關係，請勿報名。
介紹
【首度移師亞洲】NVIDIA、TSMC 、Qualcomm、宜特等大廠，定義 AI 時代的故障分析新標準
2026年4月21–22日，全球電子元件失效分析權威機構 EDFAS 舉辦的 FA Workshop。本次為期 2 天的深度技術行程，結合理論趨勢與實務場域，打造更完整的國際級 FA 技術交流平台。
本屆論壇匯聚了全球半導體價值鏈的領導者，包含 NVIDIA、Qualcomm、TSMC 等產業巨擘，以及 Enlitech (光焱科技)、Quantum Diamonds、NenoVision、SEMICAPS、JEOL 等尖端設備與技術專家。
我們將帶領與會者深入探索「後生成式 AI 時代」下，失效分析（Failure Analysis）面臨的技術瓶頸與應對策略。
隨著電子產品結構邁向極致複雜與先進製程轉型，傳統分析技術正面臨前所未有的挑戰。本次研討會將圍繞當前技術趨勢與新興應用，透過專家經驗分享與案例交流，協助與會者掌握更全面的分析思維與實務方向。
研討會亮點
硬體整合 × 實務交流： iST 宜特科技成熟的樣品製備技術與創新的測試介面，加速問題定位與驗證效率，展現硬體設計與故障分析整合的實務價值。
權威領航： NVIDIA 分享 AI 時代下的分析願景；TSMC 深度解析封裝與 PFA 關鍵議題。
微觀視界： NenoVision (AFM-in-SEM) 與 SEMICAPS(Optical Fault Localization Roadmap)、JEOL (SEM Voltage Contrast Imaging) 的最新精密檢測解決方案。
網通巨擘： 萃取 Qualcomm 全球領先的 FA 實務經驗。
透過本場技術研討會，共同探討如何加速縮短產品診斷週期，在 AI 浪潮下掌握鎖定失效定位點的關鍵核心。此外，第二天將延伸至實務場域交流，安排實地參訪 iST FA 實驗室，結合理論與現場設備觀摩，進一步了解先進製程故障分析流程。
4/21_活動大綱
| Time | Agenda | Affiliation | Presenter |
|---|---|---|---|
| 09:00-09:05 | Welcome Remarks | iST | iST |
| 09:05-09:10 | Intro of ASM/EDFA/ISTFA | ASM/EDFA | Rosalinda Ring Director, Applications and Engineering |
| 09:10-09:50 | Visionary | NVIDIA | Joy Liao Sr. Manager, FA |
| 09:50-10:30 | FA Process Flow | Qualcomm | Szu Huat Goh Director, Engineering, Test and Analytics |
| 10:30-10:45 | AM Break | ||
| 10:45-11:20 | HW Solutions | iST | Allan Tseng Sr. Vice President |
| 11:20-12:00 | PFA | TSMC | Meng-Han Wang Dept Manager, Product FA |
| 12:00-13:00 | Lunch | ||
| 13:00-13:40 | More OFI | SEMICAPS | Julian Pan Chairman and CEO |
| 13:40-14:15 | CPO | Enlitech | Joseph Liao General Manager |
| 14:15-14:45 | Magnetic techniques | Quantum Diamonds | Fleming Bruckmaier CTO |
| 14:45-15:00 | PM Break | ||
| 15:00-15:30 | AFM-in-SEM | NenoVision | Rosalinda Ring Director, Applications and Engineering |
| 15:30-16:00 | SEM Voltage Contrast | JEOL | Shunsuke ASAHINA Manager, OI Acceleration Department |
| 16:00-16:30 | Case Studies | NVIDIA | Joy Liao Sr. Manager, FA |
| 16:30-17:30 | Networking Event | ||
4/22_活動大綱
| Time | Agenda | Presenter |
|---|---|---|
| 09:10-09:30 | Opening | Sean Shen Director, Failure Analysis Engineering Division |
| 09:30-11:30 | iST Lab Tour | iST FA Lab Managers |
| 09:30-11:30 | Open Discussion | All |
報名資訊
對象：希望了解更多失效分析趨勢的在校學生、初入職場的專業人士，以及管理階層人員
時間及地點：
- 2026年4月21日（星期二）09:00–17:30（上午8:30開始簽到) 新竹市中華路二段188號 新竹國賓飯店 10樓 國際A廳
- 2026年4月22日（星期三）09:00–11:30（上午8:50開始報到) 新竹市東區新竹科學園區力行一路10-1號 宜特科技總公司 1F大廳
費用：免費
報名方式：請點選網頁上方側的「立即報名」進行線上註冊。
名額有限，所有報名資料將經過審核後方可確認。審核成功後，您將收到確認郵件。
出於專業禮貌，本次活動僅限客戶與產業夥伴參加。若您的公司與主辦、協辦或演講單位具有直接競爭關係，請勿報名。
注意事項
為保護智慧財產權和機密信息，本次活動不提供簡報檔案。
如遇不可預期之情況，主辦單位保留調整課程時間、議程內容及其他相關事項之權利，敬請理解。
主辦單位
協辦單位
贊助單位
