首頁 研討會 【4/25新竹場】如何選擇適當表面分析儀器,抓出製程汙染缺陷?

【4/25新竹場】如何選擇適當表面分析儀器,抓出製程汙染缺陷?

性質:免費
會議日期: 2019-04-25
報名截止:2019-04-17

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【4/25新竹場】如何選擇適當表面分析儀器,抓出製程汙染缺陷?

by tina

課程簡介

隨著半導體製程緊縮與演進,越來越逼近解析極限的表面汙染缺陷,該如何選擇到位的分析方式呢?

本系列技術研討會將宣告出宜特科技在材料分析上的技術佈局。此次聚焦於表面結構與成份解析的整合性解決方案,解說各類型表面分析儀器,如:歐傑電子能譜儀/X光光電子能譜儀/二次離子質譜儀/X光繞射分析儀/原子力顯微鏡/ 拉曼光譜分析儀,進行材料表面的有機成分結構,無機元素的組成,甚至是奈米級薄膜厚度與表面粗糙度,都將完整呈現結合物理結構與化學組態上的分析邏輯,尤其特別邀請兩家技術原廠,提供儀器最新規格與各熱門產業應用實績,歡迎舊雨新知蒞臨指導,並期待與您們於現場作技術交流。

課程大綱

時間課程綱要講師
13:30~14:00來賓報到與入席
14:00~14:05開場致詞宜特科技股份有限公司
業務處專案銷售部 陳正瀚
14:05~14:45宜特科技表面分析儀器與應用實例宜特科技股份有限公司
故障分析工程處 張齊如
14:45~15:15最先進X光繞射光譜儀於材料分析之應用Bruker Taiwan
15:15~15:30中場休息
15:30~16:00振動光譜分析技術於材料分析與製程檢測之應用景鴻科技有限公司
總經理 陳景翔博士
16:00~16:10Q&A討論

報名信息

  • 招生對象: 對材料分析, 表面分析, 成份分析, 化學分析, 汙染物分析有興趣者。
  • 日  期: 2019年04月25日(星期四) 13:30~16:00
  • 地  點: 300新竹市埔頂路19號9樓 (查看地圖)
  • 報名方式: 請點選網頁右側「立即報名」進行線上報名。即日起額滿為止,欲報從速。
  • 如有任何問題,請聯絡以下窗口
  • E-Mail:seminar_tw@istgroup.com / 洽詢電話:(03) 579-9909 #8819 呂小姐
  • 費  用: 免費(攜帶名片),一間公司限2名,報名成功確認以主辦單位回覆mail為主。
  • 主辦單位與協辦保留報名資格之最後審核權利,並於活動前三天以E-mail寄發「課前通知」,以示您的參加資格。

主辦單位

宜特科技股份有限公司

協辦單位

德凱宜特股份有限公司

台灣布魯克生命科學股份有限公司

景鴻科技有限公司

注意事項

  • 主辦單位與協辦保留報名資格之最後審核權利,並於活動前三天以E-mail寄發「課前通知」,以示您的參加資格。
  • 未能準時報到或當天無法出席之學員,恕無法為您保留講義與座位,亦無法提供講義電子檔案。
  • 現場報名之學員,主辦單位視現場狀況保有開放進場與否之權利。
  • **活動進行時,請勿照相、錄音或錄影,謝謝您的配合**
  • 響應環保,請學員攜帶水杯。
  • 若因不可預測之突發因素,主辦單位保留變更上課時間、議程內容及相關事項之權利。