課程簡介
隨著半導體製程緊縮與演進，越來越逼近解析極限的表面汙染缺陷，該如何選擇到位的分析方式呢?
本系列技術研討會將宣告出宜特科技在材料分析上的技術佈局。此次聚焦於表面結構與成份解析的整合性解決方案，解說各類型表面分析儀器，如：歐傑電子能譜儀/X光光電子能譜儀/二次離子質譜儀/X光繞射分析儀/原子力顯微鏡/ 拉曼光譜分析儀，進行材料表面的有機成分結構，無機元素的組成，甚至是奈米級薄膜厚度與表面粗糙度，都將完整呈現結合物理結構與化學組態上的分析邏輯，尤其特別邀請兩家技術原廠，提供儀器最新規格與各熱門產業應用實績，歡迎舊雨新知蒞臨指導，並期待與您們於現場作技術交流。
課程大綱
| 時間 | 課程綱要 | 講師 |
|---|---|---|
| 13:30~14:00 | 來賓報到與入席 | |
| 14:00~14:05 | 開場致詞 | 宜特科技股份有限公司 業務處專案銷售部 陳正瀚 |
| 14:05~14:45 | 宜特科技表面分析儀器與應用實例 | 宜特科技股份有限公司 故障分析工程處 張齊如 |
| 14:45~15:15 | 最先進X光繞射光譜儀於材料分析之應用 | Bruker Taiwan |
| 15:15~15:30 | 中場休息 | |
| 15:30~16:00 | 振動光譜分析技術於材料分析與製程檢測之應用 | 景鴻科技有限公司 總經理 陳景翔博士 |
| 16:00~16:10 | Q&A討論 | |
報名信息
- 招生對象： 對材料分析, 表面分析, 成份分析, 化學分析, 汙染物分析有興趣者。
- 日 期： 2019年04月25日(星期四) 13:30~16:00
- 地 點： 300新竹市埔頂路19號9樓 (查看地圖)
- 報名方式： 請點選網頁右側「立即報名」進行線上報名。即日起額滿為止，欲報從速。
- 如有任何問題，請聯絡以下窗口
- E-Mail：seminar_tw@istgroup.com / 洽詢電話：(03) 579-9909 #8819 呂小姐
- 費 用： 免費(攜帶名片)，一間公司限2名，報名成功確認以主辦單位回覆mail為主。
- 主辦單位與協辦保留報名資格之最後審核權利，並於活動前三天以E-mail寄發「課前通知」，以示您的參加資格。
主辦單位
宜特科技股份有限公司
協辦單位
德凱宜特股份有限公司
台灣布魯克生命科學股份有限公司
景鴻科技有限公司
注意事項
- 主辦單位與協辦保留報名資格之最後審核權利，並於活動前三天以E-mail寄發「課前通知」，以示您的參加資格。
- 未能準時報到或當天無法出席之學員，恕無法為您保留講義與座位，亦無法提供講義電子檔案。
- 現場報名之學員，主辦單位視現場狀況保有開放進場與否之權利。
- **活動進行時，請勿照相、錄音或錄影，謝謝您的配合**
- 響應環保，請學員攜帶水杯。
- 若因不可預測之突發因素，主辦單位保留變更上課時間、議程內容及相關事項之權利。