首頁 研討會 【8/26新竹場】如何有效預測電子產品腐蝕失效的發生? 加速腐蝕試驗平台技術研討會

【8/26新竹場】如何有效預測電子產品腐蝕失效的發生? 加速腐蝕試驗平台技術研討會

活動花絮:


全球空氣汙染問題日趨嚴重,空氣品質皆因含有硫化的腐蝕性氣體而使得電子產品系統、電路板、連接器與元件產生腐蝕(Corrosion)甚至爬行腐蝕(Creep Corrosion)的現象;加上近年來因中國與印度工業蓬勃發展所衍生的空氣汙染問題,直接或間接造成導致電子產品提前失效,影響產品壽命與可靠度;特別是在高階電子產品如:雲端伺服器、巨量資料硬碟、4G基地台、汽車與醫療用之電子零件、等高可靠度關注之電子產品所受到腐蝕失效的威脅,更是受到各大廠的廣泛關注。

繼去年宜特科技透過與當今國際系統大廠、電路板廠等共同研究,研發出新型加速腐蝕失效驗證技術-FoS(Flower of Sulfur)硫磺蒸氣試驗技術,今年更進一步的推出完整的加速腐蝕試驗平台,共同剖析造成腐蝕失效與爬行腐蝕的關鍵因子並找出預防措施與因應對策,期望讓參會來賓與業界先進能從中學習到:

如何有效量測電子產品實地曝露環境的空氣腐蝕程度?
如何利用加速試驗模擬惡劣環境,有效的預測爬行腐蝕現象發生?

研討會議程

時 間內 容主講人
13:00-13:30報 到
13:30-13:40開場宜特科技股份有限公司
國際工程發展處 李長斌 協理
13:40-14:10空氣汙染對電子產品的影響宜特科技股份有限公司
國際工程發展處 林岱瑩 資深管理師
14:10-14:50如何有效量測電子產品實地曝露環境的空氣腐蝕程度:庫倫還原試驗宜特科技股份有限公司
國際工程發展處 李易展 技術副理
14:50-15:10中 場 休 息
15:10-16:10加速腐蝕試驗平台的介紹與案例的分享宜特科技股份有限公司
國際工程發展處 李易展 技術副理
16:10-16:30Q&A

講師簡介

林岱瑩
  • 現職:iST宜特科技國際工程發展處
  • 經歷:過去服務於百佳泰
  • 交大科管研究所畢,負責iNEMI, HDPUG, IPC, GCF等國際組織之專案計畫管理與新技術市場分析。
李易展
  • 現職:iST宜特科技國際工程發展處;IPC 5-21hCN技術組委員、ASHRAE 會員與第八屆臺灣電路板協會(TPCA)的國際事務委員與技術規範委員。
  • 經歷:過去服務於精材科技
  • iNEMI, IPC, SMTA-China, ASHRAE, OCP, ASTRI and IMPACT Taiwan 等國際工程專案的發展。
  • 參與IPC-7093中文版開發、印刷電路板爬行腐蝕與IC封裝銅打線可靠度相關研究工作。
  • 2014年以FoS技術開發獲得SMTA-China最佳論文。

報名信息

  • 參加對象:電阻、電容晶片廠、被動元件廠、系統廠、電路板廠、材料廠、模組、LED、終端產品廠之研發、品質保證等相關工程人員與對電子產品腐蝕議題感興趣人士。
  • 研討會時間:2015年8月26日(星期三)
  • 研討會地點:新竹市埔頂路19號九樓訓練教室 (查看地圖)
  • 洽詢專線: 03-579-9909 分機 8819 鄭小姐
  • 報名方式:請點選網頁「立即報名」進行線上報名。即日起額滿為止,欲報從速。
  • 參加費用:免費(攜帶名片),一間公司限2名,報名成功確認以主辦單位回覆為主

注意事項

  • 主辦單位保留報名資格之最後審核權利,並於活動前一周以E-mail寄發「課前通知」,以示您的參加資格。
  • 未能準時報到或當天無法出席之學員,恕無法為您保留講義與座位,亦無法提供講義電子檔案。
  • 若因不可預測之突發因素,主辦單位保留變更論壇時間、議程內容及相關事項之權利。
  • 現場報名之學員,主辦單位視現場狀況保有開放進場與否之權利。

主辦單位

宜特科技股份有限公司