AEC首屆亞洲研討會登場　宜特串聯全球車用專家交流

全球車用電子可靠度技術交流正式延伸至亞洲。AEC（Automotive Electronics Council）首屆亞洲車用電子可靠度研討會（Automotive Electronics Reliability Workshop）於10月14日至15日在新竹舉行，由宜特科技擔任在地主辦（Host），將AEC長期在歐美舉辦的技術交流平台帶進亞洲，邀集來自全球車用半導體、電子與零組件產業的技術專家，共同探討車用電子可靠度與品質驗證的重要議題。

本次兩日研討會涵蓋車用電子產品的認證與功能安全（Qualification & Functional Safety）、問題解決與失效分析（Problem Solving & Failure Analysis）、靜電放電與電氣過應力（ESD & EOS）、統計技術（Statistical Techniques）、零缺陷（Zero Defects）及延伸任務剖面（Extended Mission Profiles）等主題，從元件驗證、失效分析，到長時間與不同使用條件下的可靠度挑戰，深入交流車用電子產業所關注的關鍵課題。

宜特科技此次也深度參與研討會議程。由宜特科技資深副總經理 曾劭鈞（Allan Tseng）代表致詞，為AEC亞洲首屆研討會揭開序幕；宜特科技資深經理 陳文賢（Dave Tan）擔任其中兩場議程主持人（Moderator），參與技術議程的交流與主持，與來自不同國際企業的技術專家進行深入討論。

本次研討會匯聚來自 NXP Semiconductors、Infineon Technologies、Micron Technology、TDK Electronics、Murata、Nexperia、Harman、X-FAB、YAGEO Group 等國際企業的技術專家，分享車用電子可靠度、故障分析與品質驗證等領域的實務經驗與技術觀點。

對宜特而言，這次參與的不只是活動主辦，更是站在國際車用電子可靠度技術交流的第一線。隨著車用電子朝高效能、高整合與智慧化發展，產品面對的可靠度要求也日益嚴格，從晶片、元件到實際應用，各階段的驗證與故障分析都需要更深入的技術整合。

透過此次AEC首屆亞洲研討會，宜特也持續連結國際可靠度技術平台，讓全球車用電子產業的技術經驗在亞洲交流，進一步深化台灣與國際車用半導體產業的技術連結。

關於宜特科技

始創於1994年，iST宜特從 IC 線路除錯及修改起家，逐年拓展新服務，包括故障分析、可靠度驗證、材料分析、訊號測試、化學分析與各類輔導等，客群囊括電子產業上游 IC 設計至中下游成品端，並陸續建置半導體先進製程/先進封裝驗證平台、車用電子驗證平台、5G/物聯網/車聯網/AI驗證平台、太空環境測試實驗室，提供全方位完整驗證分析服務。