活動日期：2019/12/11-13 活動地點：日本東京 iST宜特科技於2019年12月11日-13日參加SEMICON於日本東京Big Sight舉辦的展覽，展覽上有我們的驗證分析專家，針對失效分析(FA)、材料分析(MA)、可靠度驗證分析(RA)提供最新解決方案，竭誠期待在攤位上看到您。 時間：2019/12/11-13 地點：Tokyo Big Sight, Japan 宜特攤位號碼：3925
