【宜特技術論壇】 如何正確解讀TEM的影像及數據

半導體產業在中國已然成為戰略性、基礎性和先導性產業，深受國家及各地方政府與企業重點支援。
整個積體電路供應鏈驗證及分析中，材料分析占著重要一環，當客戶處於理論研究、新產品開發、工藝優化、失效分析、品質管控等過程中遇到的一系列材料顯微表徵和分析的問題時，通過高品質、高效率的測試分析服務，説明客戶解決問題，以期得以快速提升其產品品質及競爭力。
宜特（上海）檢測技術於2016年建置了材料分析實驗室，以客戶需求為主導就近服務客戶，現宜特檢測特別安排透射式電鏡(TEM)分析技術與材料分析暨表面分析技術研討會，期望協助客戶在半導體材料分析應用上，快速找到正確、有效又及時的解法。
8月2日下午 13:00~17:00，在宜特浦東實驗室，歡迎舊雨新知蒞臨指導交流！

鮑忠興 博士
現任職: 宜特科技材料分析專家
經 曆:畢業于美國亞利桑那州立大學，具有超25年半導體材料分析學界與業界經驗，臺灣顯微鏡學會監事。
於國內外學術期刊上發表超過50篇論文，其著作《近代穿透式電鏡實務》，是國內TEM從業人員的必備工具書，半導體材料分析相關著作有:
1. 鮑忠興•劉思謙，「近代穿透式電子顯微鏡實務」，滄海書局出版，台中，2008年4月初版，2012年11月二版。
2. 鮑忠興， “應用于積體電路制程改善的TEM/STEM分析技術” 電子資訊19卷1期，p.28-36，June (2013).

• 參會對象：晶圓廠 、設備製造商等研發與可靠性品質相關部門
• 研討會時間：2018年8月2日(四)；下午1:00-4:30
• 研討會地點：上海浦東實驗室(上海市浦東新區金豐路455號)
• 報名方式：請點擊線上報名，即日起額滿為止，欲報從速,如有問題,可與負責貴司業務聯繫,或撥打 800-988-0501
• 參加費用：免費（攜帶名片），一家公司限2名（若人數未滿則無此限制），報名成功確認以主辦單位回復為主。

• 名額有限，敬請儘早註冊報名。
• 主辦單位保留報名資格的最後審核權利，並於活動前一周以E-mail寄發「課前通知」，以示您的參加資格。
• 未能準時報到或當天無法出席的學員，恕無法為您保留講義與座位，也無法提供講義電子檔案。
• 若因不可預測的突發因素，主辦單位保留變更論壇時間、議程內容及相關事項的權利。
• 現場報名的學員，主辦單位視現場狀況保有開放進場與否的權利。