活動日期：2025年11月18日（星期二）– 11月19日（星期三）
活動地點：美國加州 Pasadena
宜特科技將於 2025年11月18日至19日 參加全球失效分析領域最具指標性的國際研討會與展覽——ISTFA 2025（International Symposium for Testing and Failure Analysis）。
本屆活動將在美國加州 Pasadena 隆重舉行，集結全球半導體、先進封裝、材料科技與測試分析產業的專業人士，共同分享最新失效分析技術、研究成果與產業洞察。
在 ISTFA 2025，宜特科技（iST）將展示我們在 故障分析、封裝驗證、材料分析、可靠度測試與電性驗證 等領域的完整驗測能力，並分享我們在 先進封裝與異質整合 之可靠度與失效分析上的實務經驗。
宜特憑藉長期深耕的工程能力、跨國據點與全方位實驗室服務，協助客戶快速定位問題根因、提升產品可靠度、加速上市進程。
誠摯邀請您蒞臨會場，與我們面對面交流最新技術需求與解決方案。
★ 展覽時間：2025年11月18日（二）– 11月19日（三）
★ 展覽地點：Pasadena Convention Center
★ 攤位號碼：#405
※ 本活動入場方式依大會規定，詳情請參考：ISTFA 2025 官方網站
