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媒體報導

【新電子雜誌】雲端功耗/終端電壓/異質整合挑戰紛起 AI晶片力克可靠度設計難關
2020-07-15

資料中心的雲端AI晶片,肩負人工智慧的深度學習任務,必須提高效能運算,也因此將耗費大量電能,其單一顆晶片耗電量甚至超過200W(瓦)…

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【新電子】克服SMT黏著問題 先進封裝晶片翹曲挑戰有解
2020-06-01

在設計以及封裝複雜度只增不減的狀況下,先進封裝技術將成為輔助摩爾定律延壽的最大助力。不過,先進封裝最大挑戰來自於異質整合晶片…

  新電子
【品質月刊】整合ISO26262與IATF16949產品安全技術研討會紀要
2020-02-21

學會與車用可靠度驗證分析亞洲龍頭宜特科技股份有限公司於108年12月26日在台北九樓教室聯合舉辦”整合ISO26262…

【新電子雜誌】5G測試/驗證十八般武藝齊備
2020-02-01

5G技術規格與4G LTE相較,產品測試驗證帶來諸多挑戰,如量測不確定性、測試計畫複雜、測試時間延長、測試成本大增等;5G技術與產品驗證涵蓋…

【新電子雜誌】爬行腐蝕驗證效率大增
2019-12-11

近來AI、大數據、5G、IOT與邊緣運算的應用,讓雲端資料處理中心硬體設備的可靠度越來越受到重視,而全球日趨嚴重的空污,影響了電子設備的使用壽命…

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【商業週刊】宜特科技 驗證布局拚5G新沃土
2019-11-29

商周1671期,第五屆卓越中堅企業系列,專訪宜特科技余維斌董事長。宜特鎖定「加快客戶研發速度」及「確保客戶產品品質」的雙核心服務精神,即使已取得半導體晶片驗證亞洲大廠地位,宜特仍…

【新電子】釐清翹曲程度 IC SMT早夭異常迎刃而解
2019-10-01

新電子(第403期十月號)邀請宜特板階可靠度專家莊家豪,針對IC上板後遇到的翹曲(Warpage)問題,分享宜特近期的產業觀察…

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【Digitimes】宜特IC Repackage移植技術 助先進封裝檢測無礙
2019-06-24

宜特科技宣布推出IC Repackage移植技術,可將SiP、MCM、MCP、QFP等封裝體裏頭,欲受測Die移植出來,放到另外一種形式的封裝體進行後續各式電性測試,將有利於快速對先進封裝…

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【Digitimes】新封裝帶來車用可靠度新挑戰 宜特新RA平台助廠商掌握市場先機
2019-04-24

汽車是截然不同的領域,宜特科技協理曾劭鈞就指出,車用系統不但對穩定度有高度要求,近年來效能需求也開始浮現,因此要跨入發展,必須特別注意這兩大重點,穩定度一直是車用電子…

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