联络我们   回首页   English   繁体  
 
 
 
 
 
 
 
 
 



材料分析
 

微观尺寸的材料成份、特性与结构往往主宰着巨观世界里的物质特性, 因此在新技术开发阶段或是失效分析领域中材料分析皆扮演着重要的地位。精密的分析仪器与丰富经验的完美搭配才能完成一次成功的材料分析,本实验室设置有完整的分析设备,包括结构分析的高分辨率FE-SEM, TEM...等、成份分析的AES, EDS ...等、热分析的TMA、单一晶体管电性量测的Nano-probing,再加上实验室人员的丰富实际经验与专业知识,如IC Process / Package/ Lead-free/ IMC/ Tin Whisker...等等,必能解决客户各式各样的需求。此外,更结合本公司先进的样品备置技术,如微蚀刻、离子抛光...等,以提供完整与迅速的服务。

我们提供以下服务:
   Chemical Structure Identification (FTIR, UV-Vis) 
   Elemental Testing (EDS, EDXRF, ICP-OES) 
   Microscopy (optical, SEM, TEM) 
   Chromatography and Separations (HPLC, IC, GC) 
   Mass Spectrometry (GC-MS) 
   Surface Analysis (SIMS, ESCA) 
   Thermal Analysis (TMA)

无机化合物
GAAS,FLAAS,ICP-OES,UV-Vis,IC,EDXRF,Auger,SEM/EDS,TEM
有机化合物
Headspace-GC-MS,GC-ECD/MS,GC-ECD/MS/MS,GC-FID,GC-ECD,GC-AED,GC-FPD,HPLC-DAD,HPLC-FPD,UV-Vis,μ-FTIR/ATR
 

结构观察
扫描电镜(SEM)
透射电子显微镜(TEM)
双束型聚焦离子束(Dual-beam FIB)
双束电浆离子束 (Plasma FIB)
表面分析
俄歇电子能谱仪(AES)
导电性原子力显微镜(AFM)
二次离子质谱仪(SIMS)
白光干涉仪(WLI)
热能分析
热机械分析仪(TMA)

成份分析
二次离子质谱仪(SIMS)
扫描电子显微镜(SEM)
透射电子显微镜(TEM)
俄歇电子能谱仪(AES)
X光光电子能谱仪 (XPS/ESCA)
  

 
台湾据点      |       中国据点      |       美国据点       |       日本据点     |       标准科技     |       伙伴关系
中国免费咨询电话:800-988-0501
Designed by CREATOP