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失效分析
 

失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服务项目
提供客户咨询与讨论
提供客户做IC组件失效分析,EFA(电性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需
     资源与设备
提供客户一步到位的分析服务
提供第三者公证报告

可协助解决的故障分析的种类
ESD / Latch up / OLT / Pre-condition /Reliability 等测试后的失效分析服务
验退样品分析服务或对产品瑕疵原因之分析服务
C/P , F/T ,PCBA 等流程后之样品分析服务

 

 

非破坏性分析
高分辨率立体显微镜(3D OM)
超声波扫描显微镜(SAT)
X射线检测(2D X-ray)
焊点检测
超高解析度3D X-Ray显微镜
电性测试
Keithley 参数分析仪
测IV(IV Curve Tracer)
Probe测试
HP4156 参数分析仪(测IV)
TLP ESD保护电路电性特性量测
奈米级探针量测(Nano Prober)
热点测试
微光显微镜(EMMI)
砷化镓铟微光显微镜(InGaAs)
激光束电阻异常侦测(OBIRCH)
Thermal EMMI (InSb)

竞争力分析
数字拍照
封装逆向还原工程(Reverse)
IC电路反向还原工程(Reverse)
竞争力分析
  

 
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