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Probe测试
 

在显微镜底下,利用探针搭接于IC内部线路,使其可以外接各类设备,以便量测或输入讯号。宜特科技目前拥有的探针与应用相关讯息如下:

探针分为硬针、软针及Active Probe。硬针之针尖主要规格为1 μm及5 μm;软针之针尖为 < 1 μm,主要应用在高频电路及FIB probing PAD及Active Probe(200 MHz)。
当分析样品需使用如EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等仪器却无无适当治具或socket可用时,可由点针方式提供讯号输入输出。
Wafer可搭配Probe card做各项测试。
实验室另架设有 Laser system ,可做Laser cut。

机台限制 :
最多架5只针座(5支探针)于平台上,目前拥有4只Active Probe针座,且产品高度需低10 cm。

实例照片
 
Prober station & Laser system 
实例照片
 
1μm tip
 
点针、probe、量曲线
中国免费咨询电话 800-988-0501
marketing_cn@istgroup.com
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