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Keithley 参数分析仪
 

操作简易量测快速的 KEITHLEY 4200-SCS 半导体特性系统提供实验室级的DC组件及导体组件特性量测、电性故障分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)、实时曲线绘图(IV-CURVE) 、高精确性及Sub-fA 高分辨率的量测分析。KEITHLEY 4200 将大部分的功能都整合在一个系统里,包含了PC,Windows NT Operation System,Hard disk超大的数据储存空间。KEITHLEY 4200 的随点即用的Windows接口加快及简化了读取资料步骤,所以使用者可以很快分析结果,内建的强大测试工具可以让测试方法标准化以确保相同的测试结果。

应用:
   DC组件及导体组件特性量测
   电性故障分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)
   辅助后续电性测试(Force V measure I / Force I measure V)

KEITHLEY 4200(参数分析仪)机台电性量测 IV-CURVE
 

机台限制:
最多4 Channels、最高电压100 V、最大限流100 mA,功率为2 W。

简易:随点即用的Windows操作环境.操作简单.存盘方便(可直接储存图文件及data数据文件)。
高解析:有特殊的讯号放大器可使SMU分辨率达至0.1fA。
快速:使用PC操作系统提供快速的测试设定,强大的数据分析及绘图,打印功能及庞大的硬盘储存空间。
多功能:特殊的浏览式项目导览器将测试依组件分类,并允许多项测试及提供测试流程及循环控制。
扩充性佳:自订测试模块功能可以延伸KITE控制其它外部仪器及整合测试项目。

Keithley、4200、IV曲线
中国免费咨询电话 800-988-0501
marketing_cn@istgroup.com
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