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系统/模块类静电放电试验
 
静电放电(Electrostatic Discharge, ESD)是造成大多数的电子组件或电子系统受到过度电性应力(Electrical Overstress , EOS)破坏的主要因素。这种破坏会导致半导体组件以及计算机系统等,形成一种永久性的毁坏,因而影响集成电路(Integrated Circuits, ICs)的电路功能,而使得电子产品工作不正常。而静电放电破坏的产生,多是由于人为因素所形成,但又很难避免。

电子组件或系统在制造、生产、组装、测 试、存放、搬运等的过程中,静电会累积在人体、仪器、储放设备等之中,甚至在电子组件本身也会累积静电,而人们在不知情的情况下,使这些物体相互接触,因而形了一放电路径,使得电子组件或系统遭到静电放电的肆虐。所以产品需要有静电防护测试,因此依据IEC 61000-4-2所规范中有分为Contact Discharge、Air Discharge、HCP Contact Discharge、VCP Contact Discharge四种测试项目。
系统/模块类静电放电试验、ESD测试、静电放电
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