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ESD静电测试(ESD &Latch-up)
 
静电在生活中无所不在,拿钥硕开车门时会因静电放电而使人有触电感觉,人们脱下毛衣时也会发生静电放电现象,人体所带静电的大小与自然环境中的湿度或所穿着的衣物材质等都有绝对关系。既然静电在生活中是无法避免或完全消除,对于电子产品而言,其所能承受静电的能力则为产品可靠度与市场客退(RMA)关键因子之ㄧ。

长期以来,终端产品市场因EOS而客退情形不曾间断,对终端产品的厂商而言除了在产品耐ESD设计/产线ESD防护以及成品ESD验证外,对于产品所选用的IC其承受ESD的能力必须更加关注,因为若IC承受静电能力弱,产品就不可能有良好的静电承受能力。  

过去IC ESD试验大都以试验到其所订定的ESD防护等级(例如2KV)便停止试验。近一年来,越来越多成品厂商要求其IC供货商必须提出Testing to Fail的验证与失效模式报告。经由此种过程对IC设计者来说可以了解到IC脆弱点且可作为ESD电路设计上的参考。对成品厂商而言可了解其所选用的IC所能承受的静电能力以及脆弱点以作为系统设计时参考,亦可在RMA失效分析时做为比对依据。

宜特静电测试实验室提供了人体放电模式(Human Body Mode)、机器放电模式(Machine Mode)、组件充/放电模式(Charge Device Mode)及闩锁效应(Latch-up)等测试,同时也提供ESD的I-V Curve量测以及ESD失效分析。试验则涵盖了MIL-STD(美国军规标准)和 EIA/JEDEC(日本静电防护规章),AEC(汽车电子协会)等测试服务。

IC ESD及Latch-Up参考规范:

Test Item

Reference Standard

MIL-STD

JEDEC

Other

ESD

HBM (Human Body Mode)

MIL-STD-883-G

JESD22-C114F

 

 

MM (Machine Mode)

 

JESD22-C115

JESD22-C115A

 

SCDM (Socket CDM)

 

 

 

ANSI/ESD SP5.3.2-2004

CDM (Non-Socket) 

 

JESD22-C101C

JESD22-C101D

EIA/ESDA-5.3.1

Latch Up

Room Temp. Test

 

JESD-78B

 

 

High Temp. Test

  
设备
 
 Thermo KeyTek Zapmaster7/4
 
 Thermo KeyTek Mk2 
 
设备
 
 Thermo KeyTek RCD M3
 
 HANWA CDM HED-C5000
 
静电测试、闩锁测试、静电放电
中国免费咨询电话 800-988-0501
marketing_cn@istgroup.com
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