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器件机械冲击测试(Mechanical Shock)
 
零组件机械冲击试验(Components Mechanical Shock Test)
当系统/模块遭受到冲击环境时(shock environmental),在电路板上之零组件往往因为固定方式或结构设计之自然频率因素将由系统所传递进入之冲击能量作数倍放大,而且对于小质量零组件而言其体积越小则自然频率(Nature frequency)越高。因此,对于质量轻且小的IC零组件等进行冲击试验时,通常以高g值(High acceleration)半随短脉冲时间(pulse duration)为主要测试条件,并以JESD22-B111 为主要测试依据。对于被动零组件在规范应用上则以MIL-TSD-202F为主要规范,对于集成电路则以MIL-STD-883E为主,车用电子则大都根据JEDEC为主要规范。

针对小零件及小模块之冲击试验大都采用半正弦波(half-sine waveform)冲击为主要条件,表一为JEDEC  JESD22-B104C 所建议之规格。目前提供之机械冲击条件包括:
100g / 2.0ms
200g/ 1.5ms
340g / 1.2ms
500g / 1.0ms
1500g / 0.5ms
Cisco Mechanical Testing Condition(需搭配应变进行量测)

设备
 
零组件机械冲击试验(Components  Mechanical Shock Test)
 
 
耐冲击、高g值
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