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故障分析
 

故障分析(Failure Analysis or FA)所提供的服務項目
提供客戶咨詢與討論
提供客戶做IC元件失效分析,EFA(電性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需
     資源與設備
提供客戶一步到位的分析服務
提供第三者公證報告

可協助解決的故障分析的種類
ESD / Latch up / OLT / Pre-condition /Reliability 等測試後的失效分析服務
驗退樣品分析服務或對產品瑕疵原因之分析服務
C/P , F/T ,PCBA 等流程後之樣品分析服務

 

 

非破壞分析
超高解析度數位顯微鏡(3D OM)
超音波掃瞄(SAT檢測)
X射線檢測(2D X-ray)
BGA錫球焊點檢測(BGA Solder Ball)
超高解析度3D X-Ray顯微鏡
電特性檢測
Keithley 參數分析儀
自動曲線追蹤儀(IV Curve Tracer)
探針台(Prober)
HP4156 參數分析儀
TLP ESD保護電路電性特性量測
奈米級探針量測 (Nano Prober)
故障點偵測
微光顯微鏡(EMMI)
砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs)
雷射光束電阻異常偵測(OBIRCH)
Thermal EMMI (InSb)

競爭力分析
數位拍照
封裝逆向還原工程(Reverse)
IC電路逆向還原工程(Reverse)
IC成本分析
  

 
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