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FIB介紹與應用
 
 
 
 
 
 
 
 



點針墊偵錯 (CAD Probe Pad)
 

FIB可在IC上做訊號擷取點。利用FIB將要量取之訊號點拉到IC表面,並利用機械式探針(Mechanical prober) 擷取IC內部訊號。

利用Mechanical prober量測訊號時,將IC放到測試板提供測試所需之電壓環境。一般IC內部訊號驅動能力較弱,可能推不動導線加上示波器的負載,造成方波變成三角波、DC準位降低等問題,可利用Active Probe來改善此現象。

FIB點針墊偵錯(CAD Probe pads / Debug) 
 
 
 
焊墊、聚焦離子束銲墊、銲墊點針
王先生/Chino
+886-3-5799909#6000
web_fib@istgroup.com
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